Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу на сайте. Пожалуйста, обновление браузер, чтобы улучшить качество работы с сайтом.
Каталог

Сканирующая электронная микроскопия

Март 2019

сканирующая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, метод сканирующей микроскопии, метод сканирующей электронной микроскопии, основы сканирующей зондовой микроскопииЭлектронная микроскопия крайне молода. Если оптический микроскоп знаком нам уже несколько сотен лет, первый электронный микроскоп был разработан лишь в 1931 году (а сканирующий еще позднее – в 1938 году). Хотя теоретические предпосылки к его созданию возникли чуть раньше – в 1926 году, когда немецкий физик Ганс Буш доказал влияние электромагнитного поля на движение заряженных частиц и придумал электромагнитные линзы. На сегодняшний день сканирующая электронная микроскопия используется для диагностики наноматериалов. Увеличение специального микроскопа достигает 1 000 000 крат, а разрешение измеряется в нанометрах. По сути его возможности превышают пределы классического светового микроскопа, как минимум, в 500 раз.

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Необходимость в создании нового увеличительного прибора возникла, когда стало понятно, что для оптических систем существует непреодолимый предел разрешающей способности. Длина волны видимого света накладывает жесткие ограничения, поэтому наблюдать малые объекты (менее 200 нм) через световой микроскоп невозможно. Но если заменить фотоны электронами, у которых длина волны меньше, границы становятся преодолимыми. Эта идея и лежит в основе метода сканирующей электронной микроскопии.

Как работает растровый (сканирующий) электронный микроскоп? Вместо источника света в нем установлена электронная пушка, «стреляющая» электронами. Пучок электронов направляется специальными отклоняющими катушками и фокусируется на образце электромагнитными и электростатическими линзами. После этого полученное изображение регистрируется отдельным устройством. До 1960 года картинка выводилась на кинескоп и фиксировалось на кинопленке, сейчас устаревшие технологии заменили цифровым форматом.

Метод сканирующей зондовой микроскопии позволяет получать практически трехмерное изображение – карту местности изучаемого образца. Более того, пучок электронов способен «прощупать» и химический состав клеток. Благодаря своим возможностям метод используется в самых разных сферах: медицине, биологии, физике, электроники, материаловедении и других.

Но у электронной микроскопии есть и отрицательные особенности. Электроны не могут свободно двигаться в обычной среде. Чтобы ими управлять, необходимо безвоздушное пространство (вакуум). Создание микроскопов с такими ограничениями крайне недешево. Плюс электроны чувствительны к электромагнитному полю, поэтому помещение, где установлен микроскоп, должно быть свободно от источников посторонних излучений.

Не стоит путать электронные и цифровые микроскопы. Последние вполне подходят для любительских и базовых профессиональных наблюдений и свободно представлены в розничных магазинах. На нашем сайте вы найдете цифровые микроскопы от ведущих мировых производителей Levenhuk, Bresser и других. Если затрудняетесь с выбором – звоните или пишите, мы поможем!

Использование материала полностью для общедоступной публикации на носителях информации и любых форматов запрещено. Разрешено упоминание статьи с активной ссылкой на сайт www.4glaza.ru.

Производитель оставляет за собой право вносить любые изменения в стоимость, модельный ряд и технические характеристики или прекращать производство изделия без предварительного уведомления.